半导体测试接口业务 (TIS)

TIS创立于2014年,是一家立足于国内、面向全球的高端半导体测试接口综合解决方案提供者,致力于为客户提高芯片测试效率,加速芯片上市时间

公司核心团队来自全球一流大厂,拥有超过15年行业经验。从信号传递全路径入手,通过Socket+PCB一体化设计解决芯片测试中电热行业痛点;自建SMT产线、领先的基板焊接工艺,解决垂直针卡高低温测试可靠性难题;依托自家测试机平台,自研半导体测试板检测设备,实现测试板零瑕疵出货,半导体测试接口业务已经成为很多Tier1芯片公司Tier1供应商

支持测试机平台
• Advtantest (V93K、EXA)
• Teradyne(UltraFlex、UltraFlex Plus、J750、Magnum)
• Xerra (D10、DX)
• Chroma (3680、3650、3380x)

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产品介绍产品参数应用领域

测试接口业务

• Loadboard

 垂直探针卡(MB + MLO/MLC + Probe Head)

 悬臂探针卡(PC + Probe Head)

 WLCSP探针卡业务(LB + WLCSP Socket)

 BIB(HTOL/HAST/EMI)

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